banner

ブログ

Oct 06, 2023

Aehr が FOX の新規顧客と初回注文を発表

カリフォルニア州フリーモント、2023 年 6 月 1 日 (グローブ ニュースワイヤー) --Aehr テスト システム (NASDAQ: AEHR)半導体テストおよび生産バーンイン装置の世界的サプライヤーである同社は本日、炭化ケイ素半導体の新規顧客と、FOX-XPTM マルチウェーハ テストおよびバーンイン システム、複数の WaferPakTM コンタクタ、WaferPak アライナ、および電気自動車、トラック、列車牽引用インバータモジュール用の炭化ケイ素 MOSFET の量産に使用される量産サポート キットです。 FOX-XP、WaferPakコンタクタ、WaferPakアライナを含むターンキーシステムは、今後2四半期以内に出荷される予定です。

さらに、Aehr はこの新規顧客と、FOX-XP システム、WaferPak、WaferPak アライナー、およびサポートを対象とする長期供給契約も締結しました。 この新しい顧客は、多国籍産業複合企業であり、パワー半導体を含む半導体のメーカーです。

Aehr Test Systems の社長兼 CEO である Gayn Erickson は次のようにコメントしています。「この新規顧客が、技術的および商業的要件の評価を実施した後、時間を短縮するために当社の製品版 FOX-XP ソリューションの購入に非常に迅速に移行することを決定したことに非常に興奮しています」この評価には、所有コスト、顧客デバイスモジュールの歩留まり向上、システム容量とスループット、デバイステスト、バーンイン、および安定化カバレッジが含まれており、特に使用されるトラクションインバータにとって、シリコンカーバイド市場には大きなチャンスがあると見ています。トラックなどの電気自動車や電気通勤電車などで、長期的な信頼性と耐用年数を備えた優れた製品を提供できると考えられています。重要なことに、これらの新しいアプリケーションは、当社のシステムの新たな市場推進力となっています。この顧客は、シリコンの成長を予測しています。これにより、当社の FOX システムの生産能力が増加するだけでなく、生産能力と新しい設計のための WaferPak コンタクターの購入も促進されると考えられます。

「この新しい顧客に対する当社の勢いは、オンウェーハ評価から当社のシステムとウェーハパックの発注に直接移行するなど、当社が見ている顧客ベンチマークと評価の加速を反映しています。

「いくつかの企業は、電気自動車市場、特に各電気エンジンやドライブユニットで使用される主要なトラクションインバータについて、マルチダイモジュールへのさらに強力かつ広範な移行を説明しています。マルチダイモジュールを使用したトラクションインバータの実装のサイズとコストの削減は、小型で車両ごとに複数の駆動ユニットを搭載する電気自動車では、コスト削減を達成するためにダイモジュールがより重要になります。車両ごとに 1 つのエンジンしか搭載していない従来の内燃機関車両とは異なり、標準装備される電気自動車を見ることがますます一般的になりつつありますまたは、複数のモーターまたはドライブユニットを搭載するオプションもあります。

「ウェーハレベルのバーンインは、デバイスがモジュールに組み込まれる前に、乳幼児の死亡率やデバイスの初期故障を取り除くために非常に重要です。デバイスの故障により、モジュール全体が故障して廃棄されることになります。大規模なトラクションで使用する単一モジュール通勤電車などのインバータには、最大 10、12、さらには 32 個のデバイスが含まれる場合があります。当社の FOX-XP ウェハ レベル システムは、一度に最大 18 枚のウェハのテストとバーンインが可能で、1 回の操作でダイの 100% へのコンタクトが可能です。各デバイスのテストバーンインに 100% の信頼性を持たせて、ウェーハあたり最大数千のダイをタッチダウンすることができます。これは、最大 1% 以上のダイが故障する電気自動車アプリケーションにこれらのデバイスを導入したい企業にとって重要です。焼き付けられていない場合はフィールド。

「さらに、弱いデバイスや初期故障をモジュールに組み込む前に選別するだけでなく、モジュールの信頼性にとって重要なデバイスの閾値電圧の固有の初期寿命ドリフトを安定させる必要もあります。炭化ケイ素デバイスには電圧閾値があります。これは、事実上、個々のデバイスがオンになる電圧であり、最初の使用中、または熱負荷下のバーンイン ストレス条件中にドリフトします。これにより、マルチ ダイ モジュール内の個々のダイが、他のダイを並列に接続すると、ダイに不均衡なストレスが発生し、初期故障が発生する可能性があります。これがモジュール全体の故障につながります。この故障は、「ウォーク ホーム イベント」を防ぐために排除する必要があります。トラクション・インバーター・モジュールが故障すると、駆動ユニットも故障し、運転手と乗客全員が電気自動車から降りて歩いて帰宅しなければならなくなる。」

FOX-XP システムは、複数の WaferPak コンタクタ (フル ウェーハ テスト) または複数の DiePakTM キャリア (個別ダイ/モジュール テスト) 構成で利用可能で、炭化ケイ素 (SiC) などの集積デバイスの機能テストおよびバーンイン/サイクリングが可能です。パワーデバイス、シリコンフォトニクス、その他の光学デバイス、2Dおよび3Dセンサー、フラッシュメモリ、窒化ガリウム(GaN)、磁気センサー、マイクロコントローラー、その他の最先端のICを、単一または複数のウエハーフォームファクターに組み立てる前に、マルチダイスタックパッケージ、または単体化されたダイまたはモジュールフォームファクタ。

Aehr テスト システムについてカリフォルニア州フリーモントに本社を置く Aehr Test Systems は、ウェーハ レベル、個片化されたダイ、およびパッケージ部品形式のバーンイン半導体デバイス用のテスト システムを世界的に提供しており、世界中で 2,500 を超えるシステムを設置しています。 自動車およびモビリティ集積回路市場における品質と信頼性のニーズの高まりにより、追加のテスト要件、増分容量のニーズ、およびパッケージ、ウェーハレベル、および個片化されたダイ/モジュールレベルのテストにおけるAehr Test製品の新たな機会が促進されています。 Aehr Test は、テストおよびバーンイン システムの ABTSTM および FOX-PTM ファミリ、FOX WaferPakTM アライナー、FOX WaferPak コンタクター、FOX DiePak® キャリア、FOX DiePak ローダーなど、いくつかの革新的な製品を開発し、導入してきました。 ABTS システムは、低電力と高電力の両方のロジック デバイスおよびすべての一般的なタイプのメモリ デバイスのパッケージ化された部品の製造および認定テストに使用されます。 FOX-XP および FOX-NP システムは、最先端の炭化ケイ素ベースのパワー半導体、メモリ、デジタル信号プロセッサ、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、システムオンチップ、および統合光デバイス。 FOX-CP システムは、ロジック、メモリ、フォトニック デバイス向けの新しい低コストの枚葉式コンパクト テストおよび信頼性検証ソリューションであり、FOX-P 製品ファミリーの最新製品です。 WaferPak コンタクタには、最大 300mm のウエハをテストできる独自のフル ウエハ プローブ カードが含まれており、IC メーカーが Aehr Test FOX システムでフル ウエハのテストとバーンインを実行できるようになります。 DiePak Carrier は、IC メーカーがベア ダイとモジュールの両方の最終テストとバーンインをコスト効率よく実行できるようにする再利用可能な一時的なパッケージです。 詳細については、Aehr Test Systems の Web サイト (www.aehr.com) をご覧ください。

セーフハーバーに関する声明このプレスリリースには、1933 年証券法第 27A 条および 1934 年証券取引法第 21E 条の意味における特定の将来予想に関する記述が含まれています。将来予想に関する記述は通常、将来の出来事または Aehr の将来の財務または営業業績に関連します。 場合によっては、「かもしれない」、「であろう」、「はずである」、「期待される」、「計画している」、「予想される」、「予定している」、「可能性がある」などの単語が含まれているため、将来予想に関する記述であると特定できる場合があります。 「意図する」、「目標とする」、「計画する」、「熟考する」、「信じる」、「推定する」、「予測する」、「可能性がある」、または「継続する」、またはこれらの単語の否定、またはその他の同様の用語や表現。 Aehr の期待、戦略、優先順位、計画、または意図に関するものです。 このプレスリリースの将来予想に関する記述には、Aehr の新規および既存の顧客の将来の要件と注文が含まれますが、これらに限定されません。 独自の WaferPakTM および DiePak 消耗品の予約予測。 そして、Aehr の作品に対する長期的な需要と主要市場の魅力に関する期待。 このプレスリリースに含まれる将来の見通しに関する記述は、Aehr の最近の Form 10-K、10-Q、および証券取引委員会に随時提出されるその他の報告書に詳細に記載されているリスクや不確実性など、他のリスクや不確実性の影響も受けます。 Aehr は、このプレスリリースの日付以降に発生した出来事や状況を反映するために、将来の見通しに関する記述に含まれる情報を更新する義務を負いません。

連絡先:

Aehr 試験システム

MKRインベスター・リレーションズ株式会社

バーノン・ロジャース

トッド・ケーリーまたはジム・バイヤーズ

セールス&マーケティング担当副社長

アナリスト/投資家のお問い合わせ先

(510)623-9400×215

(213) 277-5550

[email protected]

[email protected]

関連する引用

Aehr Test Systems (NASDAQ: AEHR Aehr Test Systems について セーフハーバーに関する声明 連絡先: Aehr Test Systems MKR Investor Relations Inc.
共有